為確保鹽霧試驗(yàn)箱的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)，需進(jìn)行多次試樣測(cè)試，及時(shí)解決測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)的問(wèn)題，修改設(shè)計(jì)和工藝方案。組織專(zhuān)家對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行技術(shù)鑒定，檢驗(yàn)其技術(shù)指標(biāo)是否達(dá)到國(guó)際或國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)要求，并不斷提高標(biāo)準(zhǔn)化、系列化、通用性。在測(cè)試期間進(jìn)行流程驗(yàn)證。經(jīng)過(guò)試制，分析生產(chǎn)過(guò)程的質(zhì)量，檢驗(yàn)電氣設(shè)備、模具、設(shè)備、工藝操作程序、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、原材料、生產(chǎn)環(huán)境、生產(chǎn)組織等，以確定其是否符合預(yù)定的設(shè)計(jì)質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。嚴(yán)控質(zhì)量，堅(jiān)決做到不合格原料不投入生產(chǎn)，不合格零件不下道工序，不合格鹽霧試驗(yàn)箱不出貨，確保產(chǎn)品質(zhì)量?jī)?yōu)化。
 

 

　　鹽霧試驗(yàn)箱運(yùn)行一定時(shí)間后，各種故障都會(huì)出現(xiàn)在測(cè)試箱中，對(duì)電路故障的檢查與排除是測(cè)試的重要內(nèi)容。在一個(gè)完整的電路中，如何快速而準(zhǔn)確地發(fā)現(xiàn)大量的元件和電路故障，需要我們掌握電路故障的基本原理，正確地檢查和排除故障。

 

　　試驗(yàn)中出現(xiàn)的故障主要分為儀器故障和人為操作故障。自我失效是指儀器在滿(mǎn)足基本使用條件下，由于操作不當(dāng)而不能正常工作。人為操作故障是指儀器本身沒(méi)有問(wèn)題，但由于操作不當(dāng)而使其進(jìn)入自我保護(hù)狀態(tài)或出現(xiàn)故障。隨著現(xiàn)代儀器的精確度不斷提高，對(duì)操作的要求也越來(lái)越嚴(yán)格。錯(cuò)誤的使用方式是造成故障的主要原因，故障現(xiàn)象更復(fù)雜，更難修復(fù)。由于要減少故障，我們必須掌握鹽霧測(cè)試箱的正確操作程序。

 

　　電子器件的退化失效主要表現(xiàn)為：工作時(shí)間長(zhǎng)，試驗(yàn)箱元器件的退化失效范圍廣，且隨著工作時(shí)間的延長(zhǎng)或工作環(huán)境的變化，某些參數(shù)會(huì)發(fā)生漂移，導(dǎo)致某些元器件在正常運(yùn)行和不正常運(yùn)行兩種情況下出現(xiàn)故障。

 

　　失敗的主要原因如下：

 

　　一、因負(fù)荷超過(guò)其內(nèi)部承載能力和使用維護(hù)不當(dāng)而造成的后果。

 

　　二、電子元件的常見(jiàn)故障，可能有品質(zhì)和技術(shù)缺陷。

 

　　三、環(huán)境因素，包括溫度，濕度，電壓和光線。